| 特性 |
智能手机用户界面：
在家在数据中心中：
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根据服务器虚拟化和服务器、网络存储之间的多兆连接的发展需求，数据中心架构采用了更多跳接线和密集拓扑连接器，使有长死区的电信级 OTDR 无效。OptiFiber Pro 不仅使在数据中心部署光纤成为可能，更提供了最准确的的迅速解决问题的解决方案。
只需简单的一键选择，用户即可进入 DataCenter OTDR 模式 - 无需再进行 OTDR 的设置。DataCenter OTDR 模式自动检测 OTDR 参数 - 端点检测算法，脉冲宽度等 - 而不会被短连接或连接器的数量干扰。
优势：
- 超短事件和衰减死区可精确地定位企业光纤连接中的事件和故障
- DataCenter OTDR™ 模式自动配置并迅速测试数据中心光纤
- EventMap 功能以无需扫描分析专业知识即可看懂的方式说明光纤事件
灵活而有效的独特认证：
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合理安排日常使用对最大化 OTDR 的价值有重要意义。项目经理可通过 OptiFiber Pro 内置的项目管理定义各用户的角色、设置和关联要执行的任务 – 使 OTDR 成为可计划、检查、认证和报告的万能光纤测试工具。
OptiFiber Pro 允许工作流程计划人员根据项目创建和管理操作员和工作配置 - 定义的工作或电缆 ID 可分配给特定操作员，从而提高了工作效率。您还可方便地查看各项目的进展和状态。
优势：
- 全面的 OTDR 功能可根据各操作员的工作分配保证光纤性能。
- 强大的项目管理功能可清晰地为操作员分配任务以促进 OTDR 共享
- 利用完成/失败结果可方便地监控工作进展
- 屏幕帮助可帮助您生成报告并上传到 LinkWare™ 应用程序
其他主要特点
Enterprise 版的超短事件和衰减死区
OptiFiber Pro 利用最成熟的光学技术为所有 OTDR 提供最短事件死区（MM 通常为 0.5 m）和衰减死区（MM 通常为 2.2 m，SM 通常 为 3.6 m）。这种技术优势使 OptiFiber Pro 能够检测超近距离故障，而这是目前富连接器数据中心和数据存储环境中的其它 OTDR 无法做到的。
每波长两秒扫描
OptiFiber Pro 的划时代意义在于其采集速度。在“快速测试”模式下，每波长只需短短两秒即可采集到一套完整数据。OptiFiber Pro 然后分析数据并将其作为 EventMap、Table 或 Trace 显示出来。最终结果是使用了更少的时间，从而可将更多时间用到其它工作上。
屏幕帮助 – 修正措施
屏幕“帮助”可在各测试步骤中显示用于解决光纤问题的修正措施建议。这些“帮助”是与环境相关的，使用户能够迅速找到可能的解决方案。左下角灰色图标中清晰地显示了详细的修正措施建议。
SmartLoop OTDR
SmartLoop OTDR可进行自动化测试并对一次测试中的两条光纤进行分析，且满足标准要求。此专利流程可自动对两条光纤分别进行通过/失败分析、显示和报告。它不仅可将测试时间至少减半，还能够在无需将 OTDR 移至远端点的情况下获得即时双向平均测试结果。SmartLoop OTDR 不仅可使作业完成更加快速，由于 OTDR 无需移至远端点，所以还能够在很难到达远端点甚至是危险的环境下进一步增强测试的容易度及速度。除了更快地完成任务之外，SmartLoop 还满足标准对于在双向测试中将接入光纤和尾纤留在初始位置的要求。
利用 SmartLoop 正确且快速地完成测试 - 在所有 OptiFiber Pro 模块中均免费包含。
OptiFiber Pro 的 SmartLoop 技术可在一次测试中测试两根光纤，同时为每根光纤链路提供独立的通过、失败和双向平均结果。
OptiFiber Pro 和 OptiFiber Pro HDR的比较
| OptiFiber Pro 系列 OTDR |
| |
OptiFiber Pro |
OptiFiber Pro HDR |
| 系列型号 |
OFP2-100-M (850, 1300 nm)
OFP2-100-S (1310, 1550 nm)
OFP2-100-Q (850, 1300, 1310, 1550 nm) |
OFP2-200-S (1310, 1550 nm)
OFP2-200-S1490 (1310, 1490, 1550 nm)
OFP2-200-S1625 (1310, 1550, 1625 nm) |
| 应用程序 |
Enterprise, Datacenter, Campus |
FTTx, Outside Plant, PON, POLAN, Access |
| 波长 |
850 nm
1300 nm
1310 nm
1550 nm |
1310 nm
1490 nm
1550 nm
1625 nm |
| 兼容光纤类型 |
50/125 µm、62.5 µm，单模 |
单模 |
| OTDR 端口连接器 |
可清洁 UPC 套圈，带可拆卸 SC 适配器 |
可清洁 APC 套圈，带可拆卸 SC 适配器 |
| 提供的测试线 |
测试 LC 系统的接入光纤 |
2m TRC，用于测试 SCAPC 系统 |
| OTDR 类型 |
Auto, Datacenter, Manual |
Auto, Auto PON, Manual, Manual PON |
| 事件死区 |
850 nm: 0.5 m（典型），
1300 nm: 0.7 m（典型），
1310 nm: 0.6 m（典型），
1550 nm: 0.6 m（典型） |
1310 nm: 0.7 m（典型），
1490 nm: 0.7 m（典型），
1550 nm: 0.7 m（典型），
1625 nm: 0.7 m（典型） |
| 衰减死区 |
850 nm: 2.5 m（典型），
1300 nm: 4.5 m（典型），
1310 nm: 3.6 m（典型），
1550 nm: 3.7 m（典型） |
1310 nm: 4 m（典型），
1490 nm: 4 m（典型），
1550 nm: 4 m（典型），
1625 nm: 4 m（典型） |
| PON 死区 |
不适用 |
30 m（典型） |
| 动态范围 |
850 nm: 28 dB（典型）
1300 nm: 30 dB（典型）
1310 nm: 32 dB（典型）
1550 nm: 30 dB（典型） |
1310 nm: 42 dB（典型）
1490 nm: 41 dB（典型）
1550 nm: 41 dB（典型）
1625 nm: 40 dB（典型） |
| 反射范围 |
850 nm: -14 dB 至 -57 dB（典型），
1300 nm: -14 dB 至 -62 dB（典型），
1310 nm: -14 dB 至 -65 dB（典型），
1550 nm: 一般为 -14 dB 至 -65 dB |
1310 nm: -14 至 -70 dB（典型），
1490 nm: -14 dB 至 70 dB（典型），
1550 nm: -14 dB 至 -70 dB（典型），
1625 nm: 一般为 -14 dB 至 -70 dB |
| 采样分辨率 |
最多 64,000 |
最多 129,000 |
| 专家手动模式 |
是 |
是 |
| SmartLoop，内置 |
是 |
是 |
| 宏弯检测 |
是 |
是 |
| 镜像支持 |
2019 年初推出 |
| 事件编辑和添加 |
2019 年初推出 |
| VFL |
是 |
是 |
|
